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ABER在線活酵母檢測(cè)系統(tǒng)：Aber對(duì)于管路中酵母濃度的精確檢測(cè)結(jié)合流量計(jì)、PLC控制系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)酵母添加的自動(dòng)化精確控制。酵母添加時(shí)，由于管路中酵母濃度波動(dòng)較大，很難對(duì)最終添加量進(jìn)行精確控制。
三溫分選系統(tǒng)是集成電路半導(dǎo)體行業(yè)的系列化測(cè)控解決方案。 承載了“賦能制造業(yè)，讓制造更簡(jiǎn)單”的企業(yè)愿景。產(chǎn)品線覆蓋了從手動(dòng)到自動(dòng)、從芯片到模塊的全場(chǎng)景應(yīng)用，滿足客戶不同需求。
SD6200采用相同架構(gòu)，充分利用了數(shù)模混合集成電路中的現(xiàn)有資源，使得射頻測(cè)試部分即能獨(dú)立工作，以低成本提供射頻測(cè)試能力，又能與數(shù)?；旌霞呻娐窚y(cè)試系統(tǒng)整合為統(tǒng)一機(jī)臺(tái)，為市場(chǎng)提供高性能的混合、射頻測(cè)試系統(tǒng)。
采用相同架構(gòu)，充分利用了數(shù)模混合集成電路中的現(xiàn)有資源，使得射頻測(cè)試部分即能獨(dú)立工作，以低成本提供射頻測(cè)試能力，又能與數(shù)?；旌霞呻娐窚y(cè)試系統(tǒng)整合為統(tǒng)一機(jī)臺(tái)，為市場(chǎng)提供高性能的混合、射頻測(cè)試系統(tǒng)。
SD2000老化測(cè)試系統(tǒng)提供對(duì)MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲(chǔ)器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試，將老化與電參數(shù)測(cè)試結(jié)合，在老化過程中可測(cè)試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
老化測(cè)試系統(tǒng)提供對(duì)X波段大功率微波管的高低溫動(dòng)態(tài)老化，該器件額定電壓70V、脈沖電流140A、功率為1500W和4500W、激勵(lì)的射頻信號(hào)為8-10GHZ。
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