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Lumina AT2 薄膜缺陷檢測(cè)儀：實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明、硅、化合物半導(dǎo)體和金屬基底。
Lumina AT1薄膜缺陷檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明、硅、化合物半導(dǎo)體和金屬基底。
甲烷非甲烷總烴檢測(cè)儀是一種甲烷非甲烷總烴分析儀，除了具有基于常規(guī)色譜儀的分離和測(cè)量系統(tǒng)外，AR2300-710F甲烷非甲烷總烴分析儀提供了靈活的觸摸屏式操作軟件、自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量功能。
氫火焰離子檢色譜檢測(cè)儀：色譜模塊的主要功能是實(shí)現(xiàn)樣品分離，混合樣品進(jìn)入色譜柱后，各物質(zhì)組分由于其物理化學(xué)性質(zhì)的差異，使得各組分在流動(dòng)相和固定相之間的分配系數(shù)不同，當(dāng)混合組分在兩相之間做相對(duì)移動(dòng)時(shí)，各組分在兩相間進(jìn)行反復(fù)多次的分配或吸附 /解吸，從而使各組分得到分離，并按照在流動(dòng)相中的分配濃度從大到小的順序流出色譜柱。
超低溫前處理設(shè)備,釆用電制冷技術(shù)，制冷溫度可達(dá) -50° C以下，在深冷條件下，對(duì)樣品進(jìn)行物理除水，除水效率可達(dá) 99%以上，有效解決了樣品相對(duì)濕度變化對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響，以及樣品中水汽對(duì)色譜峰漂移的影響，定性結(jié)果更準(zhǔn)確；
質(zhì)譜檢測(cè)儀其工作原理是：經(jīng)色譜柱分離后的樣品組分，隨載氣進(jìn)入質(zhì)譜，在離子源的作用下電離成帶電粒子， 利用帶電粒子在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)規(guī)律，按其質(zhì)荷比（m/z）實(shí)現(xiàn)分離分析，經(jīng)譜庫(kù)檢索得到化合物的分子量、分子結(jié)構(gòu)等信息，完成對(duì)化合物的定性和定量分析。
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